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日本advance riko周期加熱法熱擴(kuò)散率測量裝置 FTC系列 提供一種能夠簡單地評價(jià)用閃光法難以測量的薄膜樣品的方法。 采用交流焦耳加熱法測量薄膜聚合物，紙張和陶瓷等固體在厚度方向上的熱擴(kuò)散率。

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀LaserPIT 該裝置是通過掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜，薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測量裝置。 在高導(dǎo)熱膜的情況下，也可以測量亞微米薄膜。

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000 該設(shè)備是一種分布測量設(shè)備，可以同時(shí)評估塞貝克系數(shù)和熱導(dǎo)率。同時(shí)評估可以輕松評估熱電特性。還可以評估功能梯度材料，多層基板和有機(jī)材料的熱導(dǎo)率分布。

日本advance氙閃光法熱擴(kuò)散率測量裝置TD-1系列 該裝置可以評估和測量散熱膜的厚度方向和內(nèi)表面各向異性。通過采用氙氣燈，減少了對樣品的侵害，并且通過使用專yong附件，可以容易地測量樣品的各向異性。