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半導(dǎo)體外觀檢測設(shè)備介紹結(jié)果/實(shí)例

發(fā)布時間：2021-12-29　點(diǎn)擊量：1094

半導(dǎo)體外觀檢測設(shè)備介紹結(jié)果/實(shí)例

檢查示例

BGA 和 CSP 焊球的存在 / 碎屑檢查

引線框架的變形/碎裂檢查

用復(fù)合工具檢查各種物品

通過添加各種通用檢測工具（包裝檢測/檢測、斑點(diǎn)檢測、DefFinder®：通用目視檢測等），可以實(shí)現(xiàn)多種組合檢測。

背面

表面

包裝檢測/檢驗(yàn)

從包裝物輪廓的邊緣獲得最佳直線，并從這些直線的交點(diǎn)檢測包裝物的位置。
可以根據(jù)檢測到的包裹信息進(jìn)行各種檢查。

? 包裝寬度
? 包裝高度
? 包裝變形
? 缺少包裹
? 混入異物

通過切換照明條件進(jìn)行多次檢查

根據(jù)檢查項(xiàng)目切換到最佳照明條件，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定檢查。

照明條件 1

檢查丟失的包裹

照明條件 2

球內(nèi)異物檢查

有很多例子這里沒有列出。
如果您對我們的產(chǎn)品有任何疑問，例如是否可以進(jìn)行檢查，請隨時與我們聯(lián)系。


圖像處理檢測設(shè)備

從高清檢測和速度導(dǎo)向產(chǎn)品到成本導(dǎo)向產(chǎn)品，
我們提供滿足客戶檢測項(xiàng)目和要求的圖像處理檢測設(shè)備。

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