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TK-100露點(diǎn)儀在半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)車間的運(yùn)用
露點(diǎn)儀在半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)工藝中起重要監(jiān)測作用。半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)是在
凈化間內(nèi)進(jìn)行的。凈化間規(guī)范往往包括相對濕度(RH)這一項,一年內(nèi)控制點(diǎn)的范圍從35%到65%,精度2%(70℃以下)濕度超標(biāo)會影響產(chǎn)品質(zhì)量及生產(chǎn)計劃的完成。
在半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)區(qū),濕度不穩(wěn)定,會出現(xiàn)很多問題。最典型的問題是烘干期延長,整個處理過程變得難以控制。當(dāng)相對濕度高于35%時,元件易被腐蝕。此外,將顯影液噴在芯片表面時,顯影液迅速揮發(fā),使芯片表面溫度下降,致使水汽凝結(jié)在芯片表面。凝結(jié)水不但會影響顯影特性,還會吸收到半導(dǎo)體內(nèi),這將導(dǎo)致膨化及其它質(zhì)量缺陷,還必須增加一些不必要的工藝控制。
凈化間常用的除濕方法有兩種。一種是調(diào)節(jié)空氣,另一種是除濕劑。采用第一種方法時,將與凈化間氣流接觸的表面的溫度降至氣流露點(diǎn)以下。除去析出的冷凝水,將除濕后的空氣加熱至規(guī)定溫度后,重新送回凈化間。標(biāo)準(zhǔn)冷凍機(jī)可保證露點(diǎn)達(dá)到+4℃;采用第二種方法時,氣流通過吸濕劑,吸濕劑直接吸收氣流中的水分,然后將除濕后的空氣送回凈化間。吸濕劑除濕法可使露點(diǎn)低于-18℃。
國內(nèi)開發(fā)、國內(nèi)制造、國內(nèi)校準(zhǔn)
露點(diǎn)測量范圍-100至+20℃dp
精度±2℃dp
高響應(yīng)速度
有競爭力的定價體系
交貨快捷
完善的支持體系
可追溯至國家標(biāo)準(zhǔn)
手套箱內(nèi)的露點(diǎn)控制
干燥機(jī)露點(diǎn)檢查
熱處理爐內(nèi)氣氛控制
潔凈室和干燥室的露點(diǎn)管理
氣體純度控制
天然氣水分管理
半導(dǎo)體制造設(shè)備
有機(jī)EL制造
過去 40 年來,Techne Keisaku Co., Ltd. 一直致力于濕度管理和測量設(shè)備(主要是露點(diǎn)計)。電容式(阻抗式)露點(diǎn)儀TK-100系列是Techne測量有限公司的主打產(chǎn)品,用于測量露點(diǎn)或水分含量。
TK-100在線露點(diǎn)儀是TK-100變送器、監(jiān)視器和傳感器電纜的集合,因此您可以輕松開始測量露點(diǎn)。
通過在日本進(jìn)行制造、生產(chǎn)線和校準(zhǔn)等所有工序,我們極其重視質(zhì)量,并追求以易于在各種客戶現(xiàn)場情況下實施的價格范圍提供產(chǎn)品。
同時,我們建立了交貨時間短的運(yùn)輸系統(tǒng)。